-
紅外測厚儀對含水量、塗佈量、薄膜和熱熔膠的厚度具有重要意義,它起著傳遞目標資訊的作用,直接影響到檢測含水量、塗佈量、薄膜和熱熔膠厚度的準確性。
一、典型應用:
測量含水量、塗佈量、薄膜和熱熔膠厚度。 在塗膠過程中應用時,裝置可以放置在塗膠池後面和烘箱前面,以測量塗膠的厚度; 在造紙過程中使用時,該裝置可以放置在烘箱後面,以測量幹紙的含水量。
二、計量原理:
紅外光穿透物質的吸收、反射和散射效應可用於以非接觸方式測量薄膜材料的厚度。
三、產品效能引數:
1.精度:取決於測量物件)。
2.重複性:取決於測量物件)。
3. 測量距離:150 300 mm
4.取樣頻率:75Hz
5、工作溫度:0 50
6.特點(優點):測量塗層厚度,無輻射,無需安全認證,精度高。
-
大成精密生產的紅外測厚儀可實現對含水量、塗佈量、薄膜和熱熔膠厚度的檢測,是一種高精度的測厚裝置。
-
測厚儀是用於測量物體厚度的工具。 這種儀器具有測量放射射線的原理、機械觸控的原理、渦流的原理等。 下面介紹測厚儀的原理和種類。
測量原理大致有五種型別:
1.輻射測厚法:採用這種方法的儀器的**很高,一般只在特殊場合使用。
2.渦流厚度測量:適用於測量導電金屬非導電層的厚度,但精度相對較低。
3.磁性厚度測量:適用於測量導磁材料非磁性層的厚度。 一般用於:鐵、鋼、銀等材料。 測量精度比較高。
4.電解測厚法:這種方法與其他方法不同,需要破壞塗層,精度不高。 它比其他厚度測量方法相對繁瑣。
5.超聲波測厚:適用於測測塗層和厚度較多的物體的測厚,磁測厚法和渦流測厚法無法測量的場合。 但是,**很高,精度不高。
市場上測厚儀的測量方法多種多樣,大致可分為以下兩種:1、接觸式測厚儀。 2.非接觸式測厚儀。
根據接觸面積,接觸型別可分為表面接觸測厚儀和點接觸測厚儀。 非接觸式由於其原理不同,分為以下幾種:X射線測厚儀、電解測厚儀、塗層測厚儀、雷射測厚儀和超聲波測厚儀。
紙張測厚儀:更適合測量4mm以下各種薄片材的厚度。
超聲波測厚儀:它利用超聲波脈衝反射的原理來測量厚度,通過這個原理可以測量超聲波以恆定速度在物體內部傳播的各種材料。
雷射測厚儀:它是一種非接觸式測厚儀,它利用雷射反射原理,通過觀察零件表面的微觀幾何形狀來測量物體的厚度。 雷射測厚儀可直接輸出訊號並連線工控機,快速處理資料並輸出偏差值。
雷射測厚儀是一種雷射檢測技術和防護措施,適用於測量高溫物體的厚度。 其檢測系統具有成本低、無輻射、維護方便等優點。
不同型別的物體需要不同的測厚儀,所以如果我們想測量乙個物體的厚度,我們必須首先分配物體的材料。
希望介紹能對所有參觀者有所幫助。 ,您可以免費獲得
-
測厚儀分為:X射線測厚儀、射線測厚儀、雷射測厚儀。 它們各有優缺點,據我所知,到目前為止,我還沒有見過紅外測厚儀,紅外線也是一種光,如果有的話應該屬於雷射測厚儀的範疇,紅外雷射就是不可見的光,測厚儀由紅外雷射製成的可以稱為紅外測厚儀。
1.X射線測厚儀:核輻射,測量精度高,質量高,射線可控。
2.輻射測厚儀:核輻射,測量精度高,放射性低,射線不可控。
3.雷射測厚儀:無核輻射,可選測量精度,**低。
板(坯)雷射測厚系統具有無輻射、成本低、維護方便等特點,北京貝諾機電裝置研發的LPM系列雷射測厚儀是在充分借鑑國外同類裝置特點的基礎上,針對國內熱軋現場惡劣的環境條件,通過採用自主的雷射檢測技術和可靠的防護措施而研製而成, 完全滿足熱軋板坯厚度檢測的需要。
裝置特點:精度高,無輻射,安全效能好。
測量範圍大(0-750mm)。
響應速度快,不受目標材料的影響。
顯示和繪製實時厚度曲線,並儲存歷史厚度曲線。
全數字系統易於使用、操作和維護。
熱號、鋼號、鋼坯號、班次號、檢測時間與MIS系統連線,自動生成**和類報告。
高強度C型框架設計,配合高溫保護措施,既保證了強度,又保證了使用壽命。
北京貝諾機電裝置的LPM30C-II雷射測厚儀基於三角測量原理,利用整合的三角測距感測器測量安裝支架到物體表面的距離,然後根據支架的固定距離計算物體的厚度。
雷射束在被測物體表面形成乙個小光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏表面上,產生電訊號,檢測光斑在其敏感表面上的位置。 當被測物體移動時,其表面光斑相對於成像物鏡的位置發生變化,光敏器件上像點的位置也發生變化,從而可以計算出被測物體的實際移動距離。
技術引數:檢測範圍0--600mm
鋼板溫度為0--1200°C
鋼板速度為0--25m s
取樣時間優於1ms
測量精度動態更好
安裝方式:根據要求定製。
-
紅外線,分為紅外線透射和紅外線反射;
紅外測厚儀不是雷射三角測量法,一般採用透射衰減法,所以鋼板無法測量,塑料用得更多。
-
紅外測厚儀:廣泛用於測量透明和半透明塑料薄膜的厚度。
原理:這種測量裝置是利用成對的紅外探頭組成紅外發射和接收系統,當被測塑料薄膜通過探頭時,由於塑料薄膜吸收紅外線使紅外線衰減,本儀器通過測量衰減量來確定薄膜的厚度。
只能測量透明和半透明的物體,而不能測量鋼板。
-
您好,測厚儀的具體用途如下:
1、測量準備:將探頭插入主機探頭插座,按ON鍵開機,全屏顯示幾秒鐘後顯示上次關機前使用的聲速。 此時,您可以開始測量。
2、聲速調整:如果當前螢幕顯示為厚度值,按vel鍵進入聲速狀態,螢幕將顯示當前聲速儲存單元的內容。 每按一次,速度儲存單元就會發生變化,以迴圈顯示五個速度值。
如果要更改當前顯示的聲速單位的內容,請使用向上和向下鍵將其調整為所需值,並同時將此值儲存在單元格中。 3、校準:每次更換探頭和更換電池後,應進行校準。
此步驟對於確保測量的準確性至關重要。 根據需要多次重複。
將聲速調整到5900m s後,按歸零鍵進入校準狀態。 將耦合劑塗在隨機試塊上,將探頭耦合到隨機試塊上,螢幕上顯示的水平線會依次消失,直到螢幕顯示校準。 4.測量厚度:
將耦合劑塗在被測區域,將探頭與被測材料耦合,將顯示螢幕。
顯示待測材料的厚度。 當探頭耦合到被測材料上時,會顯示耦合標誌。 如果聯軸器符號閃爍或未出現,則聯軸器不好。 當探頭被移除時,厚度值保持不變,耦合標誌消失。
-
兩個雷射位移感測器的雷射束,將被測物體放置在輻射區域,根據被測物體上下表面之間的距離計算被測物體的厚度。
雷射測厚儀的基本部件是雷射器、成像物鏡、光電敏感接收器和訊號處理器測量結果顯示系統。 雷射束在被測物體表面形成乙個亮點,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器上,產生電訊號,檢測光斑在其敏感表面上的位置。 當被測物體移動時,其表面的光斑相對於成像物鏡的位置發生變化,成像點在感光器件上的位置也發生變化
-
測厚儀是用於測量材料和物體厚度的測厚儀。 在工業生產中,常用於連續或取樣產品(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔等材料)的厚度。 在這些儀器中,有利用射線、射線和射線穿透特性的輻射計; 有使用超聲波頻率變化的超聲波測厚儀; 有採用渦流原理的渦流測厚儀; 還有利用機械接觸測量原理的測厚儀。
它是如何工作的。 該測試儀採用世界測量領域最先進的技術成果,保證了測量結果的高精度和多次測量結果的高度一致性; 並且操作除錯極其方便,幾乎是自動化操作,人為因素對測量結果的影響降到最低; 對於單次測量,只列印出測量結果,對於多次測量,可以對測量結果進行統計分析,並列印出來; 接觸面積、測量壓力、移動速度等,嚴格按照有關標準的規定執行。
程式。 開機 設定測量引數 進入測試介面 放置待測薄膜 開始測量 測量結束 列印輸出 測量結果 測試結束 注意:本測量儀器具有記憶功能,如果下一次測量引數與上次相同,則可直接輸入測量值,無需設定引數。
-
鋰電池正極塗層、鋰電池隔膜塗層、紙張面密度測量。 在鋰電池塗佈過程中應用時,裝置可以放置在塗佈機放卷後,放在塗佈頭前面,以測量待塗覆基板的面密度; 它也可以放在烤箱外和捲繞前,以測量乾燥杆的面密度。
Daesung 的精密射線照相測厚儀利用 X 射線穿透物質時的吸收和反向散射效應,以非接觸方式測量薄膜材料的面密度。
測量含水量、塗佈量、薄膜和熱熔膠厚度。 在塗膠過程中應用時,裝置可以放置在塗膠池後面和烘箱前面,以測量塗膠的厚度; 在造紙過程中,該裝置可以放置在烘箱後面,以測量幹紙的含水量。 >>>More
紅外熱像儀也是一種紅外熱像儀,紅外熱像儀是一種非接觸式測溫裝置,它通過探測器檢測紅外(熱)能量,並將其轉換為電子訊號進行處理,然後在第一顯示中生成山的熱影象。 紅外測溫儀利用光電探測器將紅外能量聚焦在光電探測器上,並將其轉換為相應的電訊號,然後轉換為被測目標的溫度值。 這就是兩種溫度測量原理的區別。 >>>More
Linux是乙個免費使用、自由分發的類UNIX作業系統,是基於POSIX和UNIX的多使用者、多工、多執行緒、多CPU的作業系統。 >>>More