光收發器老化測試 30、光收發器老化測試

我正在做老化測試，加我嗨，談談。

如果你花了太多時間來變老會發生什麼。

光功率、衰減、電壓、溫度、傳輸距離等

SFP光模組高低溫試驗箱。

產品介紹。 該系列“半導體溫控平台、裝置”是基於半導體製冷片（熱電製冷片）設計的高效能溫控系統，其特點是精度高、穩定性高、壽命長、體積小、無噪音、無磨損、無振動、無汙染、製冷兼備、制熱兼備等特點，是真正的綠色環保產品。

該系列產品配備了完善的PID控制軟體，智慧型無級溫度控制，可加熱和冷卻。 它可用於控制雷射裝置、醫療裝置、半導體裝置、紅外探測器、光電倍增管或其他任何需要溫度控制的地方。

控溫速度快（-40），只需2分鐘，遙遙領先於行業。 該裝置可廣泛應用於光模組、光學器件及其元器件、小型化和小型化封裝電子產品，在開發和生產高低溫測試的各個方面。 該儀器具有以下特點，可以有效幫助企業提高生產效率，降低生產成本，快速提高產能。

它解決了當前行業通用方法儀器應帶來的各種弊端和不足。

特徵： 智慧型無級控溫，雙向控溫。

加熱製冷速度快，加熱1分鐘，製冷2分鐘內達到目標溫度。

溫度控制精度為度。

工作溫度可任意設定（通常在-40 100之間，其他範圍可定製）。

當工作溫度超過上限和下限（軟體設定）時報警。

使用者可以修改溫度PID反饋引數。

恆溫模式：雙向冷熱恆溫。

具有過流、過壓、過溫等保護功能。

具有硬體過溫、欠溫等保護電路。

高穩定性，高抗干擾性，完全消除溫度取樣通道內50個60Hz的工頻干擾。

點陣LCD或觸控螢幕控制。

友好的人機介面和故障診斷功能（如遇操作不當或停電，電源會給出故障編號提示）。

模組尺寸：根據產品型號，請參考產品說明書。

接受定製：溫控平台、夾具平台、培養箱、培養箱等可根據客戶需求定製。

產品應用。 SFP光模組高低溫試驗。

固體控溫，實驗、科研控溫。

高低溫實驗等

光模組的除錯主要是實現從電到光的轉換過程，即通過驅動電流的大小來改變發射光功率的大小，那麼光模組除錯的基本原理就是通過電路控制來改變TX端偏置電流的大小， 例如，雷射器必須達到閾值電流ITH才能正常工作，而ITH+20mA也是其典型的工作電流。這些基本上都是在一些專業書籍中介紹的。

除錯如何工作？ 你指的是什麼？

如果是光學眼圖，那麼就需要考慮電路匹配、訊號完成等因素。

如果光電效能需要結合各種協議的指標進行除錯，具體可以討論。

你的問題太簡單了，沒有針對性。 您需要告訴我們為什麼要測試 SFP 光收發器，我們可以做到。 光模組廠家和系統裝置廠商的檢測專案不同。

常規測試專案：發射光功率、消光比、眼圖質量、靈敏度、報警、報警恢復、報警滯後、過載、透射。 有測量高溫和低溫的條件。 如果是DDM光模組，還需要測試發射和報告、接收報告和溫度報告的功能。

如果你有系統盤，可以直接結束通話測試。 如果沒有系統盤，只需要拿一塊測試板、乙個直流穩壓電源、乙個誤碼表、乙個功率計、乙個示波器（用於光度計眼圖和消光比）、乙個光衰減減器、2根LC PC-FC PC測試光纖、1根FC PC-FC PC測試光纖、1根圓對圓法蘭、 和 1 根傳輸光纖（長度取決於模組的傳輸距離）。如果是單纖雙向SFP模組，還需要增加乙個額外的光源測試箱，乙個與接收波長相匹配的光源。

如果是帶SC介面的單纖雙向模組，則需要將測試光纖的LC PC-FC PC改為SC PC-FC PC。

測試方圖的種類很多，可以由陸青青自發採集，也可以由外部標準光源進行測試，這也關係到你的碼誤表的輸入輸出埠是光口還是電口，總之，根據你的實際情況和需要。

1.這些模組在 shell 中有所不同。

2.這些都是多模光模組。

具體來說，你可以搜尋智科光電的網頁看看，裡面有引數。

包裝形式不同，簡單來說，表面形狀不同。

消光比定義為邏輯“1”處雷射的平均功率與邏輯“0”處的平均功率之比。 通俗地說，影響光模組消光比的兩個因素：偏置電流和調製電流（mod）被認為是er=bias mod。

由於雷射傾斜效率的變化引起的溫度變化，在相同偏置下，在高溫下功率變小，而mod變化不大，因此在高溫下消光比ER變小，在低溫下消光比變大。

事實上，這種現象存在於所有光模組中，不僅僅是10G光模組，解決這個問題最簡單的方法是補償消光比，根據不同的溫度點改寫不同的mod值，這樣可以將消光比保持在給定的範圍內。

無線發射模組的發射功率可以通過將介質功率計連線到傳輸模組和天線中來測量，通過用示波器檢視頻寬可以知道接收靈敏度，用場強計可以測量放電線的覆蓋範圍。

轉到交換機配置並檢查埠執行狀況。